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關(guān)于核磁共振低對比度分辨力的檢測方法

更新時間:2021-01-13   點擊次數(shù):1926次

將模體放置在頭部診斷位置,并使模體水平放置于掃描野中心,然后送入磁體孔內(nèi),并掃描出定位圖。用SE掃描序列,層厚10mm(沒有10mm層厚的,選用大層厚),按TR500ms,TE30ms, NEX2次,FOV250mm256×256矩陣掃描條件(必要時可適當改變TR、TE時間,以獲得更好的影像),對模體不同測量層面進行單層掃描,必要時*行均場。

 按上述掃描條件對模體低對比度層面進行掃描。調(diào)窗寬(W)和窗位(L)對*檢定應(yīng)能分辨出φ4.0mm,深度為0.5mm圓孔。后續(xù)檢定和使用中的應(yīng)能分辨出φ6.0mm,深度為0.5mm圓孔。

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